Fisica della Materia



 
 

Chimica delle Superfici


Imagine

L’attività di ricerca del gruppo è volta allo studio delle caratteristiche chimiche e fisiche delle superfici mediante Spettrometria di Massa a Ioni Secondari (SIMS). La spettrometria SIMS è attualmente la tecnica di indagine superficiale più sensibile (ppb), in grado di ottenere una risoluzione sub-nanometrica lungo z ed una risoluzione laterale di 60nm. La spettrometria SIMS può essere utilizzata per indagare tutti gli elementi ed i relativi isotopi della tavola periodica. Negli esperimenti di depth profiling tale tecnica fornisce la composizione chimica del materiale in funzione della profondità. In aggiunta è possibile ottenere la mappatura chimica degli elementi e delle molecole mediante esperimenti di SIMS imaging. Combinando le informazioni provenienti dai profili di profondità e dalle immagini è possibile ricostruire un mapping chimico tridimensionale.

Il gruppo di Analisi di Superfici ToF-SIMS svolge attività di ricerca nei seguenti settori:

  • Studio di materiali inorganici per applicazioni in ingegneria

  • Studio di materiali metallici e polimerici biocompatibili.

  • Studi di Cluster SIMS Imaging su campioni biologici.

  • Spettrometria di Massa a Ioni Secondari applicata ai Beni Culturali.

  • Chemiometria - Analisi Statistica Multivariata su Spettri di Massa.

     

Web site: http://www.surfacelabromatre.it



Membri:


Collaborazioni

Marco Urbini

Paola Biocca

Sofia Concolato
 

Università Campus Biomedico

Policlinico Agostino Gemellil

Istituto Superiore Centrale Restauro

Università Tor Vergata

Università di Bergamo

Politecnico di Torino

IMM-CNR Agrate
 

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