L'attività di ricerca del gruppo è volta allo studio delle caratteristiche chimiche e fisiche delle superfici mediante Spettrometria di Massa a Ioni Secondari (SIMS). La spettrometria SIMS è attualmente la tecnica di indagine superficiale più sensibile (ppb), in grado di ottenere una risoluzione sub-nanometrica lungo z ed una risoluzione laterale di 60nm. La spettrometria SIMS può essere utilizzata per indagare tutti gli elementi ed i relativi isotopi della tavola periodica. Negli esperimenti di depth profiling tale tecnica fornisce la composizione chimica del materiale in funzione della profondità . In aggiunta è possibile ottenere la mappatura chimica degli elementi e delle molecole mediante esperimenti di SIMS imaging. Combinando le informazioni provenienti dai profili di profondità e dalle immagini è possibile ricostruire un mapping chimico tridimensionale.
Il gruppo di Analisi di Superfici ToF-SIMS svolge attività di ricerca nei seguenti settori:
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Studio di materiali inorganici per applicazioni in ingegneria
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Studio di materiali metallici e polimerici biocompatibili.
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Studi di Cluster SIMS Imaging su campioni biologici.
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Spettrometria di Massa a Ioni Secondari applicata ai Beni Culturali.
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Chemiometria - Analisi Statistica Multivariata su Spettri di Massa.
Web site: http://www.surfacelabromatre.it
Membri:
Collaborazioni
Marco Urbini
Paola Biocca
Sofia Concolato
Università Campus Biomedico
Policlinico Agostino Gemellil
Istituto Superiore Centrale Restauro
Università Tor Vergata
Università di Bergamo
Politecnico di Torino
IMM-CNR Agrate
