Giuseppe Schirripa Spagnolo


Qualifica: Prof. Associato
Email: giuseppe.schirripaspagnolo@uniroma3.it
Ufficio: Via della Vasca Navale 84 - stanza: 65
Telefono: tel: +390657337046
fax: 065579078
lab: +390657337089
Interessi di Ricerca:

 
ll prof. Giuseppe Schirripa Spagnolo è nato nel 1955. Si è laureato (cum laude) in Fisica nel 1978 presso l’Università degli Studi Della Calabria. Dal 1979 al 1984 si è occupato di ricerca è sviluppo industriale presso la Soc. SEA (Strumentazione Elettronica Avanzata). In questo ambito professionale, si è interessato della progettazione, realizzazione e collaudo di sistemi elettronici per controlli ambientali con particolare attenzione al controllo della radioattività naturale ed artificiale. In questo periodo, per conto della Soc. SEA, il Prof. Schirripa ha lavorato presso la centrale Elettronucleare di Caorso e presso il Centro ENEA della Trisaia.
 
Dal 08.04.81 al 08.10.82 ha prestato servizio militare di leva in qualità di Ufficiale di Complemento nella Marina Militare Italiana.
Dal 1985 al 1998 ha prestato servizio presso la Facoltà di Ingegneria dell’Università degli Studi Dell’Aquila in qualità di Ricercatore Universitario.
Nel 1986 è stato “visiting researcher” presso l’ Università del Wisconsin–Madison (USA).
Nel 1998 ha preso servizio, in qualità di Professore Associato, presso la Facoltà di Ingegneria Dell’Università “Roma Tre” (posizione che attualmente riveste).
 
La principale attività di ricerca del prof. G. Schirripa Spagnolo riguarda la progettazione e la realizzazione di sistemi optoelettronici non convenzionali per la diagnosi non distruttiva dello stato di conservazione delle opere d'arte (Elettronica per i Beni Culturali) e per applicazioni nel campo della sicurezza. Attualmente si occupa di sistemi ottici per l’individuazione della  falsificazione di documenti e banconote. Inoltre, il prof. Schirripa si occupa di metrologia ottica, di elaborazioni digitale delle immagini e di colorimetria.
In particolare si possono individuare due sottosettori di ricerca.
 
a) Messa a punto e progettazione di tecniche non convenzionali per la diagnosi non distruttiva dello stato di conservazione di reperti storico-artistici.
In quest’ambito gli studi sono rivolti, principalmente, all’individuazione (tramite strumentazione optoelettronica appositamente progettata e realizzata) di microcrack, scollamenti, distacchi e stati di tensione in opere d’arte di varia natura e con differente stato di conservazione. Lo scopo delle ricerche è quello di fornire agli addetti del settore conservazione e restauro dei manufatti artistici, sensori e metodologie d’indagine per la diagnosi di danni incipienti e una valutazione oggettiva sulla bontà o meno degli interventi di consolidamento.
 
b) Sviluppo di sistemi e tecniche per misura di costanti fisiche, individuazione della falsificazione di documenti, colorimetrie ed elaborazione digitale delle immagini.
Questa tematica di ricerca è orientata alla messa a punto di strumentazione e/o sensori da utilizzare come misuratori di distanza o per la determinazione di profili tridimensionali. In particolare, la profilometria, branca della metrologia che si occupa della misura della forma 3D degli oggetti, sta assumendo negli ultimi anni grande interesse nelle applicazioni industriali. La necessità di ottenere informazioni sempre più accurate e ad alta velocità sulla forma tridimensionale degli oggetti, ha spinto ad uno sviluppo considerevole di una vasta gamma di tecniche profilometriche innovative. In questo settore si sono inseriti alcuni studi improntati allo sviluppo di nuove tecniche e sistemi di recupero delle informazioni 3D. In particolare, il prof. Schirripa si è occupato del possibile uso di approcci attivi (topometrici) che utilizzano principi di triangolazione basati sulla proiezione di luce strutturata ottenuta tramite componenti ottici diffrattivi.
 
Il prof. Schirripa è autore di oltre 180 lavori a stampa. Tra i lavori pubblicati dal Prof. Schirripa, i più significativi risultano essere:
 
"Diffractive optical element-based profilometer for surface inspection", Optical Engineering 40, pp. 44-52 (2001). Per questo lavoro il prof. Schirripa ha ricevuto la SPIE Kingslake Medal per il lavoro - G. Schirripa Spagnolo, D. Ambrosini, "Diffractive optical element-based profilometer for surface inspection", Optical Engineering 40, pp. 44-52 (2001) - quale "… most noteworthy original paper to appear in the Society's official journal, Optical Engineering, on the theoretical or experimental aspects of optical engineering". Questo prestigioso premio internazionale è stato assegnato, anche a lavori di ricercatori insigniti di premio Nobel. Comunque, a tutt’oggi nessun altro ricercatore italiano è riuscito ad ottenere questo prestigioso riconoscimento. Oltre a tale premio, l’articolo, ha avuto l’onore, all’atto della pubblicazioni (prima di aver assegnato il premio), di vedersi dedicata la copertina del numero della rivista dove è apparso. L’articolo, insieme all’attività di ricerca del prof. Schirripa, è stato recensito su oe-magazine (settembre 2002 - pp. 35-37).
 
"Superposed strokes analysis by conoscopic holography as an aid for a handwriting expert", J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 6, 869-874 (2004). Questo lavoro, che introduce una innovativa tecnica non distruttiva per l’analisi dei manoscritti, ha ottenuto una eccezionale risonanza su mass media nazionali ed internazionali (Nature online del 10 agosto 2004; The Times di Londra del 11 agosto 2004; Scientific American.Com del 11 agosto 2004; B.B.C. news del 11 agosto 2004; La Repubblica 12 agosto 2004; New Scientist del 14 agosto 2004; The Economist del 14 agosto 2004; Los Angeles Time del 14 agosto 2004; Science now del 13 agosto 2004; ScienceDaily del 16 agosto 2004; Rai news del 18 agosto 2004 - TG3 nazionale ore 19:00 del 09/09/2004).
 
“Content fragile watermarking based on computer generated hologram coding technique” sul J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 7 (2005) 333–342. Questa pubblicazione, che introduce una innovativa tecnica per l’autenticazione di foto digitali, ha ottenuto risonanza su mass media nazionali e su alcuni siti internet internazionali (Scientific American.Com del 22 giugno 2005; innovations-report.de del 22 giugno 2005; Le Scienze.it del 27 giugno 2005; .livescience.com del 23 giugno 2005; La stampa - Scienza e società del 3 agosto 2005; The Engineer Online del 21 giugno 2005).
 
Attualmente il prof. Schirripa si sta occupando di sistemi per l’induplicabilità di documenti/banconote.
 
Il Prof. Schirripa, è Coordinatore della Scuola Dottorale Internazionale “European Doctorate Electronic Materials Optoelectronic Microsystems (EDEMOM) Sezione Elettronica: dalle nanostrutture ai sistemi.
 

 



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